DS31256的分数级T1 （FT1）环回检测

DS31256的分数级T1 （FT1）环回检测

　　摘要：介绍了利用DS31256的接收BERT (误码率测试)功能实现分数级T1 (FT1)上环回或下环回检测(V.54)的方法，并给出了示例代码。

　　概述

　　这篇应用笔记介绍了利用DS31256的接收BERT功能实现分数级T1 (FT1)上环回或下环回检测(V.54)的方法，详细说明请参考分数级T1.403附录B规范。所提供的算法和示例代码简化了DS31256最终用户的设计。

　　DS31256只有一个BERT引擎，但有16个V.54引擎(每端口一个)。因此，当测试端口多于一个时，软件带宽必须能够处理多路复用技术。

　　算法

　　图1和图2所示流程图详细说明了上环回、下环回的操作流程。假设只有端口0查找FT1模板。基本算法设置BERT查询上环回模板。同步后，这个算法检测并确保BERT同步于可编程周期(例程中为0.6秒)，然后查找一个全“1”模板。下环回例程中采用相同的同步、检验，随后是全“1”模板。

　　本例中选择0.6秒周期确保BERT同步，但这个时间周期必须根据sync_loop函数运行的快慢进行调整。
　　图1. FT1 (上环回与下环回)检测流程

　　图2. FT1 (上环回与下环回)检测流程(续)

　　示例代码中函数调用定义

　　在进入特定程序前，必须了解一些假设条件，程序中需要下列函数。

　　1.write_reg (addr, data)—将特定数值写入指定的DS31256寄存器：

　　addr = DS31256寄存器相对于芯片基地址的偏移量

　　data = 需要写入寄存器的数据

　　2.read_reg (addr)—读取DS31256特定地址的寄存器并返回值：

　　addr = DS31256寄存器相对于芯片基地址的偏移量

　　3.write_ind_reg (addr, data)—将特定数据写入指定的DS31256间接寻址寄存器，然后在返回前等待寄存器的“忙”位被清除：

　　addr = 要写入数据的间接寻址寄存器

　　data = 写入指定的间接寻址寄存器的数据

　　4.read_ind_reg (addr, i)—读取指定地址的DS31256间接寻址寄存器并返回数值：

　　addr = DS31256寄存器相对于芯片基地址的偏移量

　　i = 索引

　　5.标准的C语言打印函数printf

　　函数示例代码

　　FT1测试函数

　　1. 打印测试状态信息函数

　　2. 配置FT1函数

　　该例程假设端口0用于FT1检测。

　　3. 执行FT1测试函数

　　4. 在BERT寄存器中建立模板

　　5. 建立环回模式函数

　　结论

　　本应用笔记介绍了如何使用DS31256的接收BERT功能，从例程和软件算法可以看出实施FT1上回环和下回环检测非常简单。

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